理学独特的ZSX 400连续波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）是专门用来处理大型或重型样品的。最大可以测量直径400mm、50mm厚、30kg重的样品，该仪器是用于分析溅射靶材、磁盘、多层膜计量或大样品的元素分析的最佳选择。
自定义样品适配器系统
通过使用插入的选购（订做）适配器，ZSX400适用于各种尺寸和形状的样品，具有多种功能来满足用户特殊样品类型和分析需要。通过一个可变的测量焦斑（从0.5到30mm的5步自动选择）和多点测量Mapping（绘图）能力来检查样品的均匀性，这个独特灵活的装置可以大大简化用户的质量控制流程。
特殊照明的样品显示相机
选购的实时相机可以将分析点反应到屏幕上。操作人员可以完全确定现在正在测量什么。
传统的WDXRF分析能力
所有传统仪器的分析能力都保留在这个“大型样品”变量中。通过具有高分辨率、高精度的 WDXRF 光谱分析铍（Be），从固体到液体、粉末甚至薄膜。分析广泛的化学成分范围（ppm到百分之几十）和厚度（sub Å到mm）。选购可用是衍射峰的干扰抑制，用来优化单晶基板的结果。理学ZSX 400符合工业标准SEMI和CE。
