理学独特的ZSX 400连续波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)是专门用来处理大型或重型样品的。最大可以测量直径400mm、50mm厚、30kg重的样品,该仪器是用于分析溅射靶材、磁盘、多层膜计量或大样品的元素分析的最佳选择。
自定义样品适配器系统
通过使用插入的选购(订做)适配器,ZSX400适用于各种尺寸和形状的样品,具有多种功能来满足用户特殊样品类型和分析需要。通过一个可变的测量焦斑(从0.5到30mm的5步自动选择)和多点测量Mapping(绘图)能力来检查样品的均匀性,这个独特灵活的装置可以大大简化用户的质量控制流程。
特殊照明的样品显示相机
选购的实时相机可以将分析点反应到屏幕上。操作人员可以完全确定现在正在测量什么。
传统的WDXRF分析能力
所有传统仪器的分析能力都保留在这个“大型样品”变量中。通过具有高分辨率、高精度的 WDXRF 光谱分析铍(Be),从固体到液体、粉末甚至薄膜。分析广泛的化学成分范围(ppm到百分之几十)和厚度(sub Å到mm)。选购可用是衍射峰的干扰抑制,用来优化单晶基板的结果。理学ZSX 400符合工业标准SEMI和CE。