专业的小分子检晶器需要一个灵活的结构，理学提供XtaLAB P200化学晶体学系统。XtaLAB P200代表最先进的化学晶体学系统，结合DECTRIS PILATUS 200K混合像素阵列探测器（HPAD），及相似的技术CERN，用来探测预测的希格斯粒子。XtaLAB P200可以由钼（Mo）放射物、铜（Cu）放射物、或两者的结合构成。通过一个精确的光子计数探测器，XtaLaB P200是X射线衍射仪的完美选择，用于每天例行的晶体结构测定以及更具有挑战性的高分辨率电子密度研究。

Kappa测角仪

该产品的中心是AFC-Kappa测角仪，设计获益于超过50年的严密的工程经验。开放式的结构大大简化了低温仪器中晶体的安装、调节和定位，提供优越的倒易空间范围，即使在一个三级仪器中。此外，Kappa轴的自由旋转提供AFC-Kappa更大的灵活定位。但是，根据你的要求，一个4轴部分χ测角仪和一个3轴固定χ测角仪也同样适用。

适用X射线源的选择

该系统固有的灵活性是X射线源的选择，范围从一个高频度3kW密封管，到一个MicroMax™-003微焦点密封管，一个1.2kW MicroMax-007 HF微焦点旋转阳极和工业主导的2.97KW FR-X。适用的光学器件范围从一个传统的石墨单色器或高性能SHINE™ 光学器件到一个VariMax™ 共焦X射线光学器件。

先进的混合像素探测器阵列技术

PILATUS 200K的技术与用于基于荧光体的CCD探测器和CMOS探测器有很大不同。在基于荧光体的探测器中，X射线 转变成光，穿过一个玻璃头或尖，最终到达一个CCD或CMOS芯片，并在读取之前不断积累。信号处理过程的最后一步是从模拟信号（analog）转换到数字信号（digital）。探测器处理的每一步都会给信号带来噪音，并且干扰测定微弱信号的能力。

通过一个混合像素阵列探测器，可以使用一个固态传感器直接测定X射线。每个击中探测器的X射线光子生成大量电子空穴对，通过电量直接传入CMOS芯片进行测定，无需将模拟信号转换成数字信号。混合像素阵列探测器具有非常高的动态范围和极低的噪音，因此在短暂的读取时间和高帧率下获得最理想的信噪比。

化学检晶器受益显著。探测器的低噪音特征说明精确测定微弱反射能力提高。可用于微弱衍射晶体的高分辨率反射测定。PILATUS 200K探测器是最佳收集微弱衍射和提高结构测定成功率的理想仪器。

除了卓越的低噪音特点，PILATUS 200K还可以在不影响用户数据质量的前提下快速收集数据。PILATUS 200K是一个光子计数器，这意味着它不会在读取光子之前将其集合。在读取过程中本质上没有死区，因此最高效的收集数据的方法是打开快门，旋转晶体然后测定数据。每次打开和关闭快门，每次振动轴开始和停止，这就导致一些错误被传入到数据中。 无快门的数据收集消除了这些错误并且消除了实验的死区。该结果在更短的时间内获得更好质量的数据。