纳米粒子和纳米晶体材料的粒径大小，形状和结构，包括表面积，溶解度，反射率等影响其物理和化学特性。晶粒尺寸是通过测量晶胞内特定平面的衍射图样中一定宽度的X射线衍射峰来确定的。晶体尺寸与FWHM负相关：峰越窄，晶体尺寸越大。由于晶域的周期性， X射线强度越强，峰越尖锐。如果晶体无缺陷且呈周期性，X射线产生衍射以同样角度穿过多层样品。如果晶体随机排列，或周期性较差，其结果是一个较宽的峰。

系统

• 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
• 多目的高性能XRD: Ultima IV
• 全自动XRD: SmartLab®