理学公司的ZSX PrimusⅡ提供从Be到U主、次元素快速定量分析，广泛的样品种类，很少的标样要求。
上照射式的光学的高度可靠性
ZSX PrimusⅡ具有创新性的上照射式的光学配置。再也不用担心由于光束路径受污染或故障时间而导致样品室的维护。上照射式的光学配置消除了清洁的烦扰并增加了正常运行时间。
低原子序数性能、Mapping分析和多点分析
对分析复杂样品提供卓越的性能和灵活性，ZSX PrimusⅡ中具有一个30μm的X射线管（工业中最薄端窗的X射线管），用于特殊轻元素（低原子序数）检出限。结合了最先进的Mapping分析包来检测均质性和夹杂物，ZSX PrimusⅡ简单地提供了其他分析方法无法提供的详细样品分析。可用多点分析帮助消除非均质材料的抽样误差。
SQX基本参数软件和EZ扫描软件
EZ扫描允许用户在没有事先设定任何条件的情况下分析未知样品。此节省时间的功能仅要求单击几次鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件，可以提供最准确、最快速的XRF的结果。SQX可以自动修复包括重叠的全部矩阵效果。SQX还可以通过光电子（轻元素和超轻元素）、变化的气体环境、杂质和不同的样品尺寸，校正二次激发的效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高了准确性。
