RAPID II可以说是材料分析历史中最通用的X射线面探测器。在十多年的不断改进期间，RAPID II的成功证明了成像板技术适用于测量衍射图谱和广泛材料的散射。

多功能性

结合极大的有效面积成像板，使其对广泛的放射源具有高灵敏度并且对各种X射线源和光学系统具有灵活性。成像板探测器的性质说明微弱测量可以在强测量中轻松进行。

成本低

结合一个可行的、经过实践考验的设计和无需校正的特点，RAPID II是一个保持在实验现场最短停机时间的探测器。

结果证明

通过运行RAPID II的实验仅受到研究者想象力的局限。示例包括粉末衍射的相ID、微衍射描绘低至10微米、漫散射、纤维衍射、小分子结构分析、应力和织构检测等。